第26回リオン微粒子計測セミナーのご案内
HDD製造におけるコンタミネーション コントロール
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今回のテーマは、「ハードディスクドライブ製造の現場におけるコンタミネーションコントロールおよび、その周辺技術についての最新動向・情報」です。
HDD業界を取り巻く話題と製造工程を支えるコンタミネーションコントロール技術を中心に、この分野での研究でご高名な、金沢大学・大谷先生による最新の情報と、この分野を代表する企業の方々に、事例をテーマにご講演いただきます。
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| 日時 |
2005年11月15日(火） 10：10〜16：50 |
| 場所 |
あいおい損保新宿ビル セミナールーム （旧・大東京火災新宿ビル）
JR新宿駅南口/都営新宿線新宿駅
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| 受講料 |
一般：3,000円（テキスト代・昼食代）
IDEMA会員：2,000円（テキスト代・昼食代）
当日、受付にてお支払い願います。 |
| 定員 |
200名（申込み受付順・定員になり次第締め切ります）
締切日：2005年11月8日（火） |
| お申し込み方法 |
お申し込みを締め切りました。 |
| お問い合わせ先 |
リオン株式会社 計測器営業部 セミナー係
TEL：042-359-7860 |
| 主催：リオン株式会社、後援：日本工業出版株式会社、協力：IDEMA JAPAＮ |
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セミナープログラム
| 10：10〜 |
ご挨拶 |
| 10：20〜12：00 |
HDDにおける汚染のメカニズム
金沢大学 工学部教授 大谷 吉生 氏
株式会社 山形富士通 小松 明弘 氏 |
| 12：00〜13：00 |
昼休み |
| 13：00〜13：40 |
特別講演 HDD業界の最新動向
株式会社 ピクシーピナクルコーポレーション 堀内 義章 氏 |
| 13：40〜14：40 |
HDDにおける分子汚染問題とその評価技術
株式会社 住化分析センター 武田 直樹 氏 |
| 14：40〜15：00 |
休憩 |
| 15：00〜16：00 |
クリーンルームの基礎と最新動向
株式会社 テクノ菱和 田村 一 氏 |
| 16：00〜16：40 |
環境モニタリングシステム
九州リオン株式会社 櫛山 一利 氏 |
| 16：40〜16：50 |
ご挨拶 |
＊プログラムを一部変更することがあります。 |